網2013年2月1日消息，安捷倫科技公司日前宣布將在 DesignCon 上展示具有快速上升時間和高輸出幅度的32-Gb/s 比特誤碼率測試儀（展位 201）。本屆展會于1月29日至30日在圣克拉拉會議中心舉行。

中心基礎設施的建設進入了新的階段，它不僅支持云計算、大數據和分析，同時也是推動新型高速數據傳輸標準（例如 100-Gb 以太網和 32-Gb 光纖通道）開發(fā)的動力之一。高傳輸速度使光學和電氣元器件設計人員面臨著新的測試挑戰(zhàn)。元器件表征必須滿足更嚴苛的要求，意味著設計人員需要更快的上升/下降時間。光收發(fā)信機和發(fā)射機光組件（TOSA）要求使用更高的驅動電壓，然而標準碼型發(fā)生器的輸出卻無法提供。

，以用于要求更高數據速率的應用（包括100-Gb 以太網和OIF-CEI-28G），而無需使用外部驅動放大器以及相關的互連電纜和電源。

　　安捷倫副總裁兼數字光學測試部總經理 Jürgen Beck 表示："在廣泛的 BERT 解決方案中，安捷倫面向研發(fā)、驗證和制造領域中的應用提供新的選擇。每一款安捷倫 BERT 均提供精確、可重復的測試結果，能夠幫助工程師精確地表征儀器性能，同時確保儀器符合行業(yè)標準。我們業(yè)已改進了32-Gb/s N4960A 串行 BERT 系列的上升/下降時間，從而為高速元器件設計人員提供所需的信號保真度和設計余量，以進行下一代器件測試。"

　　作為 N4960A BERT 系列的成員，新型碼型發(fā)生器經過配置后，可通過電纜將測試前端連接到 BERT 控制器。在該配置下，設計人員可將碼型發(fā)生器置于被測器件附近，盡可能地縮短信號電纜的長度，從而最大程度地避免信號劣化。